簡易檢索 / 檢索結果

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    內嵌式記憶體良率與可靠度之協同提升技術
    • 電機工程系 /102/ 碩士
    • 研究生： 何思瑩   指導教授： 呂學坤
    • 隨著半導體製程技術的進步，系統晶片 (SOC) 中使用的嵌入式記憶體容量與密度越來越高，而導致記憶體故障更容易發生。因此，記憶體的良率很大程度決定系統晶片的良率。單一位元故障占所有故障形態比例最高，…
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